Возможности
Идентификация фаз
Определение фазового состава по дифракционным максимумам.
Кристалличность
Оценка параметров решетки и размеров кристаллитов.
Ритвельд-анализ
Уточнение структурных параметров в работах по тонким пленкам и оксидным системам.
Подразделение
Лаборатория физических методов исследования.
Для финального сайтаМодель прибора подтверждена открытым источником. Перед публикацией серийного номера, года выпуска, состояния, доступности для внешних заказчиков и фотографии необходимо сверить внутренний инвентарный реестр.