Қазақстан, Алматы, Қонаев көшесі, 142
«Д.В. Сокольский атындағы Отын, катализ және электрохимия институты» АҚДәстүр. Білім. Болашақ технологиялары.
«Ғылым мен технология — тұрақты өнеркәсіптік дамудың негізі»Д.В. Сокольский атындағы ОКЭИ
Іргелі зерттеулер
Қолданбалы шешімдер
Өнеркәсіптік ынтымақтастық
Рентгеновская дифракция

ДРОН-4-0.7 / ДРОН-4-07

Рентгеновские дифрактометры, регулярно используемые в публикациях ИТКЭ для фазового анализа катализаторов, сорбентов и полупроводниковых материалов.

МетодXRD
ИзлучениеCo Kα
ЗадачиФазовый и структурный анализ
Прямо подтверждено публикациями ИТКЭ

Возможности

Идентификация фаз

Определение фазового состава по дифракционным максимумам.

Кристалличность

Оценка параметров решетки и размеров кристаллитов.

Ритвельд-анализ

Уточнение структурных параметров в работах по тонким пленкам и оксидным системам.

Бөлімше

Лаборатория физических методов исследования.

Для финального сайтаМодель прибора подтверждена открытым источником. Перед публикацией серийного номера, года выпуска, состояния, доступности для внешних заказчиков и фотографии необходимо сверить внутренний инвентарный реестр.