Kazakhstan, Almaty, 142 Kunaev St.
JSC D.V. Sokolsky Institute of Fuel, Catalysis and ElectrochemistryTradition. Knowledge. Technologies of the future.
“Science and technology are the foundation of sustainable industrial development”D.V. Sokolsky IFCE
Fundamental research
Applied solutions
Industrial cooperation
Сканирующая электронная микроскопия

JEOL JSM-6610LV + EDS

Низковакуумный сканирующий электронный микроскоп, используемый в работах ИТКЭ для исследования морфологии и элементного состава материалов.

МетодSEM / EDS
ПроизводительJEOL / Oxford Instruments
Статус подтвержденияОборудование лаборатории ИТКЭ
Прямо подтверждено публикациями ИТКЭ
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.

Возможности

Морфология поверхности

Изучение структуры катализаторов, сорбентов, покрытий и тонких пленок.

Элементный анализ

EDS/EDX-анализ и картирование распределения элементов.

Материаловедение

Исследование пористых, оксидных и композиционных материалов.

Department

Лаборатория физических методов исследования. В публикациях 2024–2026 гг. прямо указано, что SEM/EDS-исследования выполнялись на оборудовании этой лаборатории.

Для финального сайтаМодель прибора подтверждена открытым источником. Перед публикацией серийного номера, года выпуска, состояния, доступности для внешних заказчиков и фотографии необходимо сверить внутренний инвентарный реестр.