Қазақстан, Алматы, Қонаев көшесі, 142
«Д.В. Сокольский атындағы Отын, катализ және электрохимия институты» АҚДәстүр. Білім. Болашақ технологиялары.
«Ғылым мен технология — тұрақты өнеркәсіптік дамудың негізі»Д.В. Сокольский атындағы ОКЭИ
Іргелі зерттеулер
Қолданбалы шешімдер
Өнеркәсіптік ынтымақтастық
Сканирующая электронная микроскопия

JEOL JSM-6610LV + EDS

Низковакуумный сканирующий электронный микроскоп, используемый в работах ИТКЭ для исследования морфологии и элементного состава материалов.

МетодSEM / EDS
ПроизводительJEOL / Oxford Instruments
Статус подтвержденияОборудование лаборатории ИТКЭ
Прямо подтверждено публикациями ИТКЭ
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.

Возможности

Морфология поверхности

Изучение структуры катализаторов, сорбентов, покрытий и тонких пленок.

Элементный анализ

EDS/EDX-анализ и картирование распределения элементов.

Материаловедение

Исследование пористых, оксидных и композиционных материалов.

Бөлімше

Лаборатория физических методов исследования. В публикациях 2024–2026 гг. прямо указано, что SEM/EDS-исследования выполнялись на оборудовании этой лаборатории.

Для финального сайтаМодель прибора подтверждена открытым источником. Перед публикацией серийного номера, года выпуска, состояния, доступности для внешних заказчиков и фотографии необходимо сверить внутренний инвентарный реестр.