Казахстан, Алматы, ул. Кунаева, 142
АО «Институт топлива, катализа и электрохимии им. Д.В. Сокольского»Традиции. Знания. Технологии будущего.
«Наука и технология — основа устойчивого промышленного развития»ИТКЭ им. Д.В. Сокольского
Фундаментальные исследования
Прикладные решения
Индустриальное сотрудничество
Сканирующая электронная микроскопия

JEOL JSM-6610LV + EDS

Низковакуумный сканирующий электронный микроскоп, используемый в работах ИТКЭ для исследования морфологии и элементного состава материалов.

МетодSEM / EDS
ПроизводительJEOL / Oxford Instruments
Статус подтвержденияОборудование лаборатории ИТКЭ
Прямо подтверждено публикациями ИТКЭ
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.
Лаборатория электронной микроскопии и структурного анализа.

Возможности

Морфология поверхности

Изучение структуры катализаторов, сорбентов, покрытий и тонких пленок.

Элементный анализ

EDS/EDX-анализ и картирование распределения элементов.

Материаловедение

Исследование пористых, оксидных и композиционных материалов.

Подразделение

Лаборатория физических методов исследования. В публикациях 2024–2026 гг. прямо указано, что SEM/EDS-исследования выполнялись на оборудовании этой лаборатории.

Для финального сайтаМодель прибора подтверждена открытым источником. Перед публикацией серийного номера, года выпуска, состояния, доступности для внешних заказчиков и фотографии необходимо сверить внутренний инвентарный реестр.